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摘要:
随着集成电路的功能越来越复杂,超大规模集成电路的动态老炼越来越成为一项困难的工作。传统针对超大规模集成电路的老炼多采用静态老炼方法,这种方法不能使电路内部的功能节点动作起来,无法保证老炼效果,因此能够实现电路内部所有功能模块全动态激励的TDBI技术越来越受到人们的关注。本文以国产多核处理器芯片为测试对象,为研究多核处理器芯片的TDBI方法进行了芯片老炼测试软硬件系统开发,解决了多核处理器老炼中大功率电源供电、图形存储空间不足等关键技术。
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内容分析
关键词云
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文献信息
篇名 国产多核处理器芯片TDBI技术研究
来源期刊 环境技术 学科 工学
关键词 国产多核处理器 老炼中测试 超大规模集成电路
年,卷(期) 2014,(4) 所属期刊栏目 技术专栏 TECHNICAL COLUMN
研究方向 页码范围 66-69
页数 4页 分类号 TN47
字数 2270字 语种 中文
DOI
五维指标
作者信息
序号 姓名 单位 发文数 被引次数 H指数 G指数
1 翁雷 9 15 3.0 3.0
2 曲芳 4 18 2.0 4.0
3 望正气 4 2 1.0 1.0
传播情况
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研究主题发展历程
节点文献
国产多核处理器
老炼中测试
超大规模集成电路
研究起点
研究来源
研究分支
研究去脉
引文网络交叉学科
相关学者/机构
期刊影响力
环境技术
双月刊
1004-7204
44-1325/X
大16开
广州市科学城开泰大道天泰1路3号《环境技术》编辑部
1983
chi
出版文献量(篇)
2782
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19
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