垂直及倾斜接触面电测深曲线特征

• 作者: 汤井田 潘克家 谭洁
• 来源期刊: 物探化探计算技术
• 学科: 地球科学
• 关键词: 点源 电测深 倾斜接触面 解析法
• 年，卷（期）: 2014,（1）
• 所属期刊栏目: 重·磁·电勘探
• 页码范围: 1-8
• 页数: 8页
• 分类号: P631.3+22
• 字数: 4016字
• 语种: 中文
• DOI: 10.3969/j.issn.1001-1749.2014.01.01

摘要

在实际应用中,层状介质往往有一定的倾斜角度,利用经典理论中的解析法求解水平地层上的视电阻率测深曲线有一定的局限性.而只有当反射系数为“1”,倾斜角度为π/m;或反射系数为“-1”,倾斜角度为π/2m时(m为整数),才能利用镜像法来求解倾斜接触面上的视电阻率.这里推导了倾斜接触面存在时电测深视电阻率的计算公式,给出了任意倾斜角度的接触面上测深视电阻率曲线特征,并讨论了垂直接触面上装置轴与接触面平行、斜交及垂直时视电阻率曲线的变化情况,较好地解决了陡倾接触面旁侧电阻率法推断解释中的一些实际问题.

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	汤井田	中南大学地球科学与信息物理学院	169	2333	27.0	38.0
2	潘克家	中南大学地球科学与信息物理学院	15	124	6.0	10.0
3	谭洁	中南大学地球科学与信息物理学院	6	21	3.0	4.0