基于Patran密封继电器的微粒碰撞噪声检测极限冲击试验条件研究

• 作者: 安琪 李文军 梁安生 梁慧敏 牛鹏飞
• 来源期刊: 低压电器
• 学科: 工学
• 关键词: PIND 密封继电器 极限冲击试验条件 有限元 Patran
• 年，卷（期）: 2014,（11）
• 所属期刊栏目: 研究与分析
• 页码范围: 7-11,48
• 页数: 6页
• 分类号: TM58
• 字数: 2556字
• 语种: 中文

摘要

在针对微粒碰撞噪声检测(PIND)试验中,过大的冲击强度会使继电器内部组件发生疲劳损伤和塑性变形,降低器件可靠性.分析了过量冲击试验使密封继电器失效的机理,提出了极限冲击条件的力学判定方法.采用有限元软件Patran仿真分析内部各组件在不同冲击激励下的力学响应规律,研究了密封继电器PIND极限冲击条件.试验证明了所得极限冲击试验条件的有效性和实用性.

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	梁慧敏	哈尔滨工业大学军用电器研究所	94	589	13.0	18.0
2	牛鹏飞	哈尔滨工业大学军用电器研究所	5	9	2.0	3.0