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摘要:
像素复位电路是CMOS图像传感器的重要组成部分,其特性直接影响着图像的质量.本文对CMOS APS图像传感器的动态范围、抗饱和能力、图像滞后以及非线性等性能进行了分析,并讨论了通过复位电路改善CMOS图像传感器性能的方法.在本文中,设计了两种带有抗饱和电路的硬复位电路,一种是采用传统的交叉耦合结构实现电压转换,另一种是基于改进的锁存器结构并增加阈值补偿管来实现,两种方案各具特点,分别适用不同的应用要求.仿真结果表明,两种电路方案均能够使动态范围提高2~ 3dB,增强像素抗饱和能力,同时消除了图像滞后与弱光下的非线性.
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文献信息
篇名 CMOS图像传感器的硬复位电路研究
来源期刊 电子学报 学科 工学
关键词 CMOS图像传感器 硬复位电路 动态范围 抗饱和 图像滞后 非线性
年,卷(期) 2014,(1) 所属期刊栏目 科研通信
研究方向 页码范围 182-186
页数 5页 分类号 TN43
字数 3148字 语种 中文
DOI 10.3969/j.issn.0372-2112.2014.01.029
五维指标
作者信息
序号 姓名 单位 发文数 被引次数 H指数 G指数
1 岳素格 28 96 5.0 8.0
2 晋孝峰 2 15 2.0 2.0
3 刘丽艳 3 17 2.0 3.0
4 赵岳 2 15 2.0 2.0
5 王春芳 2 15 2.0 2.0
6 陈淼 2 14 2.0 2.0
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研究主题发展历程
节点文献
CMOS图像传感器
硬复位电路
动态范围
抗饱和
图像滞后
非线性
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1962
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