电感耦合等离子体质谱法测定高纯钨中26种痕量杂质元素

• 作者: 张颖 熊静
• 来源期刊: 硬质合金
• 关键词: 电感耦合等离子体质谱 高纯钨 痕量杂质
• 年，卷（期）: 2014,（5）
• 所属期刊栏目: 分析检测
• 页码范围: 309-314
• 语种: 中文
• DOI: 10.3969/j.issn.1003-7292.2014.05.008

摘要

采用电感耦合等离子体质谱法(ICP-MS)测定高纯钨中26种痕量杂质元素,讨论了溶样方式,研究了质谱干扰和钨基体效应,应用屏蔽炬技术消除56ArO+等多原子离子对Fe、Ca、K等元素的干扰,采用在线样品标准加入法消除基体效应.各元素的方法检出限(15σ)为0.03～0.45μg/g,对样品加标0.5μg/g的回收率在88％～116％之间.方法适用于纯度为99.999％的高纯钨中痕量杂质元素的测定.

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	张颖		12	57	5.0	7.0
5	熊静		1	7	1.0	1.0