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摘要:
MEMS射频器件,特别是超宽带器件,对其中的射频器件提出了宽带指标的要求。以此为背景,在理论分析的基础上设计了一种应用于12.5 GHz~50 GHz频带的超宽带双膜桥式MEMS开关,该开关具备低损耗、高隔离度等特点,文中给出了开关的制备工艺,并进行流水完成了芯片制备。经测试,该开关在设计频段内,回波损耗优于20 dB,插入损耗典型值0.3 dB@12.5~35 GHz,优于0.5 dB@45 GHz,隔离度全频段优于20 dB,驱动电压在45 V~55 V之间。
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文献信息
篇名 一种超宽带MEMS开关的研制
来源期刊 传感技术学报 学科 工学
关键词 电子对抗 RF-MEMS开关 超宽带 双膜桥 电容式
年,卷(期) 2014,(3) 所属期刊栏目 物理类传感器
研究方向 页码范围 312-315
页数 4页 分类号 TN974|TM564
字数 2956字 语种 中文
DOI 10.3969/j.issn.1004-1699.2014.03.007
五维指标
作者信息
序号 姓名 单位 发文数 被引次数 H指数 G指数
1 董自强 中国电子科技集团公司第五十四研究所 4 6 2.0 2.0
2 赵博韬 中国电子科技集团公司第五十四研究所 5 8 2.0 2.0
3 石国超 中国电子科技集团公司第五十四研究所 6 11 2.0 3.0
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研究主题发展历程
节点文献
电子对抗
RF-MEMS开关
超宽带
双膜桥
电容式
研究起点
研究来源
研究分支
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期刊影响力
传感技术学报
月刊
1004-1699
32-1322/TN
大16开
南京市四牌楼2号东南大学
1988
chi
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