循环掩码型AES密码芯片的相关性功耗攻击

• 作者: 刘飚
• 来源期刊: 华中科技大学学报（自然科学版）
• 学科: 工学
• 关键词: 侧信道攻击 掩码 汉明距离 方差检验 相关系数
• 年，卷（期）: 2014,（11）
• 页码范围: 112-116
• 页数: 5页
• 分类号: TP393.7
• 语种: 中文
• DOI: 10.13245/j.hust.141121

摘要

针对循环掩码型A ES密码芯片，提出了一种相关性功耗攻击方法。首先利用方差分析找出明文盲化和S盒计算的时间点，然后通过比较盲化后的字节的汉明权重和实际测量功耗值的相关系数恢复掩码，最后针对 S盒输入和输出的汉明距离进行相关能量分析。随机选取公开数据集DPA Contest V4提供的1×104条样本曲线进行实验，结果表明该方法仅需要45条曲线即可正确恢复密钥。

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	刘飚	北京电子科技学院管理系	14	51	4.0	6.0