直流辉光放电质谱法测定高纯氧化镧中25种杂质元素

• 作者: 李继东 王长华 胡芳菲
• 来源期刊: 冶金分析
• 学科: 化学
• 关键词: 直流辉光放电质谱法 高纯氧化镧 杂质元素
• 年，卷（期）: 2014,（3）
• 页码范围: 24-29
• 页数: 6页
• 分类号: O657.63
• 字数: 3114字
• 语种: 中文
• DOI: 10.13228/j.issn.1000-7571.2014.03.005

摘要

利用铜粉作为导电介质,与氧化镧粉末混合均匀,压片,采用直流辉光放电质谱法(dc-GDMS)测定了高纯氧化镧粉末中的部分杂质元素含量.考察了辉光放电条件,如放电电流、放电气体流量、离子源温度以及压片条件,如两种粉末的混合比例、压片机压力等因素对放电稳定性以及灵敏度的影响,优化了实验条件;尝试了将镧,氧和铜的总信号归一化进行计算的方法,用差减法计算了高纯氧化镧粉末中的杂质元素含量.将铜粉作为试剂空白,连续测定11次,统计各待测元素检出限为0.005～0.34 μg/g;对高纯氧化镧粉末样品独立测定6次,测定结果与电感耦合等离子体质谱法基本吻合,相对标准偏差在20％以内.

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	王长华		23	148	8.0	11.0
2	李继东		30	270	11.0	15.0
3	胡芳菲		4	25	3.0	4.0