直流电弧原子发射光谱法测定钛和钛合金中微量杂质元素

• 作者: 王宽 王辉 郑伟 马晓敏
• 来源期刊: 岩矿测试
• 学科: 化学
• 关键词: 钛及钛合金 杂质元素 原子发射光谱法 直流电弧 电荷耦合器件
• 年，卷（期）: 2014,（4）
• 所属期刊栏目: 岩石矿物分析
• 页码范围: 506-511
• 页数: 6页
• 分类号: O614.411|O657.31
• 字数: 4137字
• 语种: 中文

摘要

高纯度的钛及钛合金具有良好的可塑性,当有杂质存在时变得脆而硬而影响其性能,准确分析杂质元素的含量有利于对钛生产工艺进行质量控制.对于杂质元素的分析,现行国家标准方法是采用样品蒸发温度较高的直流电弧作为光源,摄谱仪测定,需要经过显影、定影、测量黑度等步骤,操作繁琐,流程长,测量误差较大.本文应用中阶梯光栅和电荷耦合器件(CCD)组成的直流电弧(DC Arc)原子发射光谱仪(波长范围200～800nm),谱线干扰分析和谱线强度测量可以同时进行,能更大限度地获取光谱信息,建立了快速测定钛及钛合金中10种微量杂质元素(锰锡铬镍铝钼钒铜锆钇)的分析方法.实验讨论了测定过程中的四类谱线干扰,包括钛作为基体元素的谱线干扰、钛合金中添加的化学成分元素干扰、铁谱线的干扰、杂质元素之间的干扰,确定了适当的分析线;并应用一种浅孔薄壁细颈杯形电极装入试样,提高了样品的蒸发效果;用氯化银和碳粉的混合物作缓冲剂,提高了待测元素的谱线强度.本方法的检测范围为0.001％ ～0.06％,精密度小于15％,回收率为90.0％～110.0％,适合于大批量钛及钛合金样品中杂质元素的同时检测.

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	王辉		26	99	6.0	9.0
2	王宽		10	36	4.0	5.0
3	郑伟		11	40	4.0	6.0
4	马晓敏		5	13	2.0	3.0