Cd/Zn 气氛退火过程中 CdZnTe 晶体内 Te 夹杂的迁移研究

• 作者: 介万奇 何亦辉 刘惠敏 周岩 徐亚东 查钢强 王涛 蔺云 郭欣
• 来源期刊: 功能材料
• 学科: 工学
• 关键词: CdZnTe Cd/Zn 合金 退火 Te 夹杂 迁移机制
• 年，卷（期）: 2014,（7）
• 所属期刊栏目: 工艺?技术
• 页码范围: 7135-7138
• 页数: 4页
• 分类号: TB34
• 字数: 2274字
• 语种: 中文
• DOI: 10.3969/j.issn.1001-9731.2014.07.028

摘要

通过红外透过成像研究了 Cd/Zn 气氛退火过程中 Cd0．9 Zn0．1 Te∶In 晶体内 Te 夹杂的密度及尺寸分布的演变.结果发现,Cd/Zn 气氛退火前,晶体中的 Te 夹杂密度分布比较均匀；退火后,晶体高温端近表面区域的 Te 夹杂密度较退火前提高了1个数量级,而晶体内部的 Te 夹杂密度则较退火前降低了1个数量级,且其密度沿温度梯度方向逐渐增加.退火前,晶体表面和内部的 Te 夹杂的直径主要分布在1~25μm；退火后,在晶体表面,直径＜45μm 的 Te 夹杂密度显著增大；而在晶体内部,直径＜5μm 和＞25μm的 Te 夹杂密度显著增大.导致这些现象的原因是退火过程中,Te 夹杂沿着温度梯度方向不断向晶体表面迁移,在迁移过程中尺寸相近的 Te 夹杂通过合并长大,尺寸相差较大的 Te 夹杂则以 Ostwald 熟化方式长大,并使小尺寸的 Te 夹杂更小.但由于熟化不充分,在 Ostwald 熟化长大过程中留下了很多尺寸＜5μm 的 Te 夹杂颗粒.