X射线荧光光谱法测定白云石、石灰石中氧化钙、氧化镁和二氧化硅

• 作者: 乔蓉 郭钢
• 来源期刊: 冶金分析
• 学科: 化学
• 关键词: X射线荧光光谱法 白云石 石灰石 压片法 灼烧减量 氧化钙 氧化镁 二氧化硅
• 年，卷（期）: 2014,（1）
• 页码范围: 75-78
• 页数: 4页
• 分类号: O657.34
• 字数: 2057字
• 语种: 中文
• DOI: 10.13228/j.issn.1000-7571.2014.01.014

摘要

将白云石、石灰石标准样品直接压片,通过灼烧减量对氧化钙、氧化镁和二氧化硅含量进行校正,根据其含量与强度的对应关系绘制校准曲线,建立了X射线荧光光谱法(XRF)测定白云石、石灰石中这3种主要成分的方法.对一部分试样直接压片测定,同时另一部分试样进行灼烧减量试验,可大大节约标准样品的用量.灼烧时间试验表明,试样在1 100℃下灼烧0.5h就可达到恒重;粒度试验表明,样品粒度大于200目时可消除粒度效应的影响.用CaO和MgO含量进行基体校正,可消除其对低含量SiO2的影响;采用经验系数法可消除元素间的吸收-增强效应.精密度试验结果表明,氧化钙、氧化镁和二氧化硅测定结果的相对标准偏差(n=8)在0.038％～3.5％之间;对石灰石和白云石标准样品和实际样品进行准确度考察,测定值与认定值或滴定法的测定值一致.

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	乔蓉		10	49	3.0	7.0
2	郭钢		2	32	1.0	2.0