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摘要:
为了探索采用直流辉光放电质谱法(dc-GDMS)测定非导体样品中的杂质含量,建立了de-GDMS法测定α-Al2O3粉末中杂质元素的方法.以Cu粉作为导电介质,与α-Al2O3粉末混合均匀,压片,考察辉光放电条件(放电电流、放电气体流量、离子源温度)和压片条件(两种粉末的混合比例、压片机压力等因素)对放电稳定性和灵敏度的影响,同时优化了实验条件.尝试将Al、O、Cu的总信号归一化进行计算,并用差减法计算了Al2O3粉末中的杂质含量.方法精密度在54%以内,元素检出限为0.005~0.57 μg/g.该方法的测定结果与直流电弧发射光谱法的测定结果基本吻合.
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文献信息
篇名 直流辉光放电质谱法测定氧化铝中的杂质元素
来源期刊 质谱学报 学科 化学
关键词 直流辉光放电质谱法(dc-GDMS) 氧化铝粉末 压片 归一化 杂质元素
年,卷(期) 2014,(4) 所属期刊栏目 研究简报
研究方向 页码范围 335-340
页数 6页 分类号 O657.63
字数 3199字 语种 中文
DOI 10.7538/zpxb.youxian.2014.0029
五维指标
作者信息
序号 姓名 单位 发文数 被引次数 H指数 G指数
1 王长华 23 148 8.0 11.0
2 李继东 30 270 11.0 15.0
3 胡芳菲 4 25 3.0 4.0
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研究主题发展历程
节点文献
直流辉光放电质谱法(dc-GDMS)
氧化铝粉末
压片
归一化
杂质元素
研究起点
研究来源
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相关学者/机构
期刊影响力
质谱学报
双月刊
1004-2997
11-2979/TH
大16开
北京275信箱65分箱中国原子能科学研究院
82-349
1980
chi
出版文献量(篇)
1837
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