Flash型FPGA单粒子效应测试系统设计

• 作者: 张善从 徐微 陈晨
• 来源期刊: 电子测量技术
• 学科: 航空航天
• 关键词: Flash型FPGA 单粒子效应 加固技术验证 自动测试
• 年，卷（期）: 2014,（9）
• 所属期刊栏目: 可编程器件应用
• 页码范围: 70-78
• 页数: 9页
• 分类号: V19
• 字数: 5569字
• 语种: 中文

摘要

通过分析Flash型FPGA芯片的基本结构和应用需求,设计了针对各个FPGA功能模块的试验方法,并实现了一套单粒子效应测试系统.对Actel ProASIC3系列Flash型FPGA进行单粒子翻转(SEU)、单粒子功能中断(SEFI)以及单粒子闩锁(SEL)等各类单粒子效应进行测试,并验证抗单粒子效应加固技术的有效性.测试系统包含硬件板卡设计、FPGA逻辑设计以及上位机软件设计等过程,并引入了自动测试技术优化测试流程.最终,测试系统能够满足单粒子效应试验的要求.

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	陈晨		68	446	12.0	18.0
7	张善从	中国科学院空间应用工程与技术中心	42	303	10.0	14.0
14	徐微		1	12	1.0	1.0