扫描 Kelvin 探针表面电位特征参数在有机涂层劣化研究中的应用

• 作者: 吕伟艳 孔爱民 张有慧 朱玉婷 赵增元 马永青
• 来源期刊: 腐蚀与防护
• 学科: 工学
• 关键词: 有机涂层 扫描 Kelvin 探针(SKP) 表面电位特征参数 表面电位梯度
• 年，卷（期）: 2014,（10）
• 页码范围: 1033-1036
• 页数: 4页
• 分类号: TG174.46
• 字数: 3528字
• 语种: 中文

摘要

为了研究扫描 Kelvin 探针表面电位技术在有机涂层劣化研究中的应用并选择合理的评价特征参数，结合使用电化学阻抗谱 EIS 和扫描 Kelvin 探针（SKP）技术研究了有机涂层在3．5％ NaCl 溶液中的劣化过程，分析了有机涂层劣化过程中扫描 Kelvin 探针表面电位分布数特征参数Vmin、Vmax-Vmin的变化规律，并首次提出了表面电位梯度最大值 gradmax这个特征参数。结果证明，扫描 Kelvin 探针特征参数 gradmax、Vmin ，Vmax-Vmin和电化学阻抗谱具有很好的相关性，扫描 Kelvin 探针特征参数能够很好地用来评价有机涂层劣化，表面电位梯度最大值 gradmax可以用来研究有机涂层下金属腐蚀发生的趋势和速度。

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	张有慧		17	38	4.0	5.0
2	赵增元		13	51	4.0	7.0
3	朱玉婷		8	19	3.0	3.0
4	马永青		14	41	4.0	5.0
5	孔爱民		17	69	5.0	7.0
6	吕伟艳		11	50	4.0	6.0