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摘要:
重点介绍采用黑瓷低温玻璃陶瓷外壳(CerQFP64)封装的集成电路水汽超标的原因。根据此种外壳的特殊性,通过采用特殊的高温烘烤处理措施,使采用黑瓷低温玻璃陶瓷外壳(尤其对超过保质期的外壳)封装的电路内部水汽由原来的>5000×10-6,降低到2000×10-6以下。
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内容分析
关键词云
关键词热度
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文献信息
篇名 玻璃封帽内部水汽控制技术
来源期刊 电子与封装 学科 工学
关键词 黑瓷低温玻璃外壳 气密性封装 内部水汽含量
年,卷(期) 2014,(7) 所属期刊栏目
研究方向 页码范围 12-13,39
页数 3页 分类号 TN305.94
字数 1626字 语种 中文
DOI
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作者信息
序号 姓名 单位 发文数 被引次数 H指数 G指数
1 郭伟 12 41 4.0 6.0
2 陈陶 1 0 0.0 0.0
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研究主题发展历程
节点文献
黑瓷低温玻璃外壳
气密性封装
内部水汽含量
研究起点
研究来源
研究分支
研究去脉
引文网络交叉学科
相关学者/机构
期刊影响力
电子与封装
月刊
1681-1070
32-1709/TN
大16开
江苏无锡市惠河路5号(208信箱)
2002
chi
出版文献量(篇)
3006
总下载数(次)
24
总被引数(次)
9543
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