覆锇扩散阴极的钡蒸发及膜层衰减

• 作者: 于志强 朱木易 李季 程诚 聂秋玲 高玉娟
• 来源期刊: 真空电子技术
• 学科: 物理学
• 关键词: 阴极 蒸发 锇膜 衰减 寿命试验
• 年，卷（期）: 2014,（4）
• 所属期刊栏目: 微波管专辑
• 页码范围: 24-28
• 页数: 5页
• 分类号: O462
• 字数: 3112字
• 语种: 中文

摘要

本文介绍了对覆锇阴极在寿命过程中的钡蒸发与膜层退化进行的研究.试验分别在二极管和蒸发测试管两种载体中进行,工作温度为1 000,1 040,1 080,1 120℃.分别测量了阴极的蒸发速率、欠热特性,并对样品进行了扫描电镜表面分析以及能谱(EDS)分析.试验结果表明阴极正常工作温度下,600 h后进入10-11 g/cm2 s量级.二极管中阴极的功函数呈现出下降趋势.阴极表面形貌显示随着工作时间增长,表面呈现出越来越多的可见孔.EDS分析表明,阴极表面的W-Os比例在已进行寿命试验过程中保持稳定.在1 080℃以下,钡蒸发是阴极寿命衰减的主要因素,并建立基于钡耗尽的蒸发失效模型.

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	程诚		6	26	3.0	4.0
2	李季		23	100	5.0	8.0
3	于志强		12	40	4.0	5.0
4	聂秋玲		2	5	2.0	2.0
5	高玉娟		15	55	4.0	6.0
6	朱木易		5	13	3.0	3.0