基于频域介电谱法的绝缘纸聚合度和水分含量预测的新方法

• 作者: 刘平 吴广宁 崔运光 曹保江 李伟 段宗超
• 来源期刊: 绝缘材料
• 关键词: 绝缘纸 频域介电谱法 评估参数M 绝缘纸聚合度 水分含量
• 年，卷（期）: 2014,（6）
• 所属期刊栏目: 测试与分析
• 页码范围: 91-96
• 页数: 6页
• 分类号: TM215.6
• 语种: 中文

摘要

频域介电谱法应用于评估油纸绝缘中的水分含量时,其测试结果会受到试样温度、老化状态和绝缘几何参数等因素的影响.为了消除几何参数的影响,试验引入与绝缘几何参数无关的评估因子M,通过试验方法建立了M与绝缘纸聚合度和tanδ(f=1 Hz)的函数关系.定义不同频率下tanδ的标幺值(tanδ)p.u.和(tanδ)p.u.的平均值(tarnδ)avg,建立了(tanδ)avg与绝缘纸中水分含量的函数关系.结果表明:参数M随绝缘纸聚合度的减小而增大且呈近似指数关系,与tanδ(f=1 Hz时)呈近似线性关系;(tanδ)avg与绝缘纸中水分含量呈近似线性关系,因此,可以将参数M和(tanδ)avg分别作为绝缘纸聚合度和纸中水分含量预测的新参数.

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	吴广宁	西南交通大学电气工程学院	458	6939	39.0	56.0
2	李伟	西南交通大学电气工程学院	99	645	14.0	21.0
3	曹保江	西南交通大学电气工程学院	18	135	7.0	11.0
4	段宗超	西南交通大学电气工程学院	8	147	7.0	8.0
5	崔运光	西南交通大学电气工程学院	8	140	6.0	8.0
6	刘平		2	10	2.0	2.0