斜向探测电离图描迹提取算法研究

• 作者: 刘子龙 张成峰 朱启强 王昶
• 来源期刊: 中国电子科学研究院学报
• 学科: 工学
• 关键词: 斜向探测电离图 描迹提取 有序统计量检测
• 年，卷（期）: 2014,（1）
• 所属期刊栏目: 工程与应用
• 页码范围: 85-88
• 页数: 4页
• 分类号: TN011.2
• 字数: 2610字
• 语种: 中文
• DOI: 10.3969/j.issn.1673-5692.2014.01.016

摘要

电离层斜向探测工作在高频段,密集的外部干扰如短波通信,广播电台以及大气噪声等污染了接收数据,严重影响斜向探测电离图描迹的提取.针对上述问题,本文提出了一种提取斜向探测电离图描迹的算法.该算法由频域去干扰,有序统计量OS-CFAR检测,去虚警点三个步骤构成.对实测数据的处理结果表明这种方法的有效性和实用性.

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	刘子龙	中国电波传播研究所青岛分所	8	46	3.0	6.0
2	张成峰	中国电波传播研究所青岛分所	5	15	1.0	3.0
3	朱启强	中国电波传播研究所青岛分所	6	5	1.0	2.0
4	王昶	中国电波传播研究所青岛分所	2	1	1.0	1.0