偏光干涉法测量液晶的双折射率

• 作者: 宋连科 彭敦云 栗开婷 郭文静
• 来源期刊: 激光技术
• 学科: 物理学
• 关键词: 测量与计量 液晶 电光效应 偏光干涉 双折射率
• 年，卷（期）: 2014,（3）
• 所属期刊栏目: 激光材料和光学元件
• 页码范围: 422-424
• 页数: 3页
• 分类号: O436.3
• 字数: 1347字
• 语种: 中文
• DOI: 10.7510/jgjs.issn.1001-3806.2014.03.030

摘要

为了测量液晶双折射率，从偏光干涉的理论公式入手，通过一定的近似，采用偏光干涉法测量液晶双折射率，进行了理论分析和实验验证，获得了较为理想的数据。结果表明，在采用偏光干涉法测量液晶材料的双折射率时，避免了对透射光谱的绝对光强进行测量，使得测量结果具有较高的精度。这一结果对液晶器件的设计、制作和使用是有帮助的。