交流500kV复合绝缘子断裂原因分析

• 作者: 张俊鹏 赵毅飞 黄金磊
• 来源期刊: 绝缘材料
• 关键词: 复合绝缘子 断裂 气隙 电场分布 局部放电
• 年，卷（期）: 2014,（6）
• 所属期刊栏目: 测试与分析
• 页码范围: 79-82
• 页数: 4页
• 分类号: TM216
• 语种: 中文

摘要

通过对某交流500 kV复合绝缘子断裂情况进行分析,认为由电场畸变引起的局部放电是促使绝缘子断裂的原因.利用有限元软件ANSYS建立500 kV复合绝缘子几何模型,对其电场分布特性进行仿真计算.结果表明:绝缘子断裂位置位于高压端附近的场强极大值处,当此处护套芯棒界面存在气隙缺陷时,护套内外局部电场均出现不同程度的增大,且内外场强存在较大差值易造成护套击穿.电场不均匀引起的局部放电进一步会沿电场方向形成碳化通道,在水气及酸性物质的影响下,绝缘子力学性能会极大降低,严重时导致绝缘子断裂.

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	黄金磊		11	25	3.0	5.0
2	赵毅飞		14	13	2.0	3.0
3	张俊鹏		5	85	3.0	5.0