基于微机电系统的错位移动闭锁机构

• 作者: 刘双杰 李大顺 郝永平
• 来源期刊: 探测与控制学报
• 关键词: 微机电系统 闭锁 安全系统
• 年，卷（期）: 2014,（4）
• 页码范围: 14-16
• 页数: 3页
• 分类号: TJ431.3
• 语种: 中文

摘要

针对引信MEMS闭锁机构卡头工作时需要变形,以致在很小环境力下质量块可能出现运动不到位的情况,提出了基于微机电系统的错位移动闭锁机构.该机构运用错位移动法,通过质量块与基板的相对运动使质量块运动到位.运用ADAMS对其进行运动及动力学的仿真,仿真结果表明:此闭锁机构在很小的环境力下就能将质量块锁死在基板的顶部.利用离心转台来模拟机构实际的工作环境进行实验,实验结果和ADAMS仿真的结果一致,表明提出的错位移动闭锁机构在很小的推力下就能够满足实际的需求.

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	刘双杰	沈阳理工大学装备工程学院	21	95	5.0	8.0
2	郝永平	沈阳理工大学装备工程学院	170	586	11.0	17.0
3	李大顺	沈阳理工大学机械工程学院	1	3	1.0	1.0