X射线荧光光谱法测定铁矿石中4种成分

• 作者: 徐敏 魏明贺
• 来源期刊: 物理测试
• 关键词: X射线荧光光谱法 测定 铁矿石
• 年，卷（期）: 2014,（6）
• 所属期刊栏目: 测试技术
• 页码范围: 28-30
• 语种: 中文
• DOI: 10.13228/j.boyuan.issn1001-0777.20130135

摘要

试验了X射线荧光光谱法测定铁矿石中TFe,Si,Ca,Mg含量的方法.试验通过调整助熔剂四硼酸锂和铁矿石试样使用量的方法,对铁矿石试样进行荧光光谱分析.结果表明:通过降低四硼酸锂和铁矿石使用量的方法,可以准确地测定铁矿石中TFe,Si,Ca,Mg.分析结果误差符合国家标准,并可以降低分析成本19％.

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	徐敏		7	4	1.0	2.0