基于JC-5600 ATE的单/双电源运算放大器测试方法

• 作者: 章慧彬 赵桦
• 来源期刊: 电子与封装
• 学科: 工学
• 关键词: 单 双电源集成运算放大器 测试技术 JC-5600测试系统(ATE)
• 年，卷（期）: 2014,（4）
• 页码范围: 14-16
• 页数: 3页
• 分类号: TN407
• 字数: 2475字
• 语种: 中文

摘要

集成运算放大器具有成本低、功能多等优点，可广泛用于自动控制系统、测量仪表等其他电子设备中。近年来集成运放的指标在不断提高，性能也在不断提升，伴随着运算放大器的发展，对用来考核运算放大器指标的测试技术也提出了相应的要求，对测试系统（Automatic Testing Equipment，以下简称ATE）的性能要求也相应变高。阐述了单、双电源集成运算放大器在JC-5600 ATE上的测试方法，并分析了两者的测试差异。

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	章慧彬		12	31	4.0	5.0
2	赵桦		6	14	3.0	3.0