腭中部微种植钉支抗系统的临床效果评价

• 作者: 潘一春 赵健慧
• 来源期刊: 北京大学学报医学版
• 关键词: 正畸支抗 腭 正畸学 测颅法
• 年，卷（期）: 2014,（6）
• 所属期刊栏目: 论著
• 页码范围: 969-974
• 页数: 6页
• 分类号: R783.5
• 语种: 中文
• DOI: 10.3969/j.issn.1671-167X.2014.06.030

摘要

目的:初步探讨腭中部微种植钉支抗系统在固定矫治中的支抗效果,为正畸临床支抗的选择提供参考.方法:选择骨性Ⅰ、Ⅱ类需上颌强支抗的青少年正畸患者14例作为研究对象,均采用双颌固定矫治器进行正畸治疗,在上颌减数两颗第一双尖牙并在腭中线旁、第一磨牙水平植入微种植钉一颗.以0.019 inch×0.022 inch(1inch =2.54 cm)的不锈钢方丝横腭杆固定连接微种植钉和双侧上颌第一磨牙,组成一个腭中部微种植钉支抗系统进行正畸力的负载,下牙列不纳入研究.植入微种植钉时(T0)、上颌间隙关闭或基本关闭时(T1)分别拍摄头颅侧位片进行头影测量描图.分别采用SN-7平面及PP平面作为参考平面,对微种植钉以及上颌第一磨牙在T0、T1的位置差异进行头影测量分析.采用配对t检验进行统计学分析.结果:腭中部微种植钉植入后的临床成功率为73.9％.14例进行测量分析的病例中,微种植系统负载正畸力后仍保持稳固,双侧第一磨牙没有发生明显的近中移动.微种植钉以及上颌第一磨牙的位置变化在两组间的差异没有统计学意义.结论:本研究中设计的腭中部微种植支抗系统具有较好的稳定性,在正畸治疗中能够起到强支抗的作用,可作为一种正畸强支抗的可选方案在临床中应用.