晶体管输出型光电耦合器长期储存寿命研究

• 作者: 张佳宁 成精折 李洪玉 欧熠 谢俊聃 金雷 陈春霞
• 来源期刊: 半导体光电
• 学科: 工学
• 关键词: 光电耦合器 长期储存寿命 寿命模型
• 年，卷（期）: 2014,（2）
• 所属期刊栏目: 光电器件
• 页码范围: 230-232
• 分类号: TN386.5
• 语种: 中文

摘要

介绍了两种长期储存寿命的考核方法,通过对晶体管输出型光电耦合器进行加速寿命试验,记录数据并进行统计分析,利用寿命模型推算出了晶体管输出型光电耦合器常温下的储存寿命.

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	陈春霞		16	41	4.0	5.0
2	金雷		13	13	2.0	2.0
3	欧熠		7	32	3.0	5.0
4	成精折		4	8	2.0	2.0
5	李洪玉		4	8	2.0	2.0
6	谢俊聃		4	8	2.0	2.0
7	张佳宁		8	10	2.0	2.0