脑室外引流感染的相关危险因素分析

• 作者: 王红军
• 来源期刊: 天津医药
• 关键词: 脑室外引流 脑脊液渗漏 术后 细菌感染 Logistic回归 导管置留
• 年，卷（期）: 2014,（1）
• 所属期刊栏目: 短篇论著
• 页码范围: 82-83
• 页数: 2页
• 分类号: R651.1
• 语种: 中文
• DOI: 10.3969/j.issn.0253-9896.2014.01.027

摘要

目的：分析影响脑室外引流（EVD）术后感染的相关因素，以降低术后感染率。方法选取228例行EVD手术的患者，其中脑脊液（CSF）感染组53例，未感染组175例，比较2组的相关资料，分析EVD术后感染的影响因素。结果 CSF感染组的CSF渗漏比例（18.9%）、后颅窝手术比例（41.5%）及导管置留时间（13.7±10.7）d高于未感染组，分别为8.6%、20%及（6.4±7.5）d，但CSF采样次数（1.4±1.8）次低于未感染组（4.0±3.7）次，差异均有统计学意义；导管置留时间>11 d、有CSF渗漏是CSF感染的危险因素，CSF采样次数<1次是保护因素。结论 EVD相关感染与引流时间、频繁的CSF采样、脑脊液漏有关。

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	王红军		16	119	5.0	10.0