Mach-Zender干涉仪温度测量实验研究

• 作者: 籍远明
• 来源期刊: 电子技术
• 关键词: 光纤 Mach-Zender干涉仪 温度测量
• 年，卷（期）: 2014,（5）
• 所属期刊栏目: 电子测量技术
• 页码范围: 75-76,74
• 页数: 3页
• 字数: 1085字
• 语种: 中文
• DOI: 10.3969/j.issn.1000-0755.2014.05.021

摘要

文章基于Mach-Zender干涉仪结构原理，设计了一个温度测量实验。结果表明：当物体温度升高时，干涉仪条纹出现向左侧移动现象；当物体温度下降时，干涉仪条纹向右侧移动。温度的变化与条纹移动数目成线性相关性，线性拟合度为0.9996，对比实验进一步说明，Mach-Zender干涉仪测量温度具有很高的精度。

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	籍远明	青岛科技大学数理学院	21	30	4.0	4.0