DC/DC芯片输出电压测试不确定度计算

• 作者: 刘恺 周萌 翁祖泉
• 来源期刊: 工业技术创新
• 学科: 工学
• 关键词: DC/DC芯片测试 输出电压 不确定度
• 年，卷（期）: 2014,（2）
• 所属期刊栏目: 技术及创新
• 页码范围: 202-204
• 页数: 3页
• 分类号: TM933
• 字数: 1962字
• 语种: 中文

摘要

输出电压是DC/DC芯片测试中的重要参数之一，输出电压不确定度可根据DC/DC芯片测试系统的系统模型和其它影响因素构建的数学模型计算得出。依据建立的数学模型，结合各不确定度实测数据和校验报告数据，可计算得出输出电压的测试标准不确定度和扩展不确定度。

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	刘恺		6	15	2.0	3.0
2	周萌		5	11	2.0	3.0
3	翁祖泉		5	23	3.0	4.0