利用电致发光技术快速测定晶硅太阳电池少子寿命

• 作者: 刘霄 沈文忠 王振
• 来源期刊: 太阳能学报
• 学科: 工学
• 关键词: 晶硅太阳电池 电致发光 少子寿命
• 年，卷（期）: 2014,（3）
• 页码范围: 487-491
• 页数: 5页
• 分类号: TN307
• 字数: 3173字
• 语种: 中文

摘要

结合理论分析,讨论太阳电池电致发光的影响因素,提出利用电致发光技术来测定晶硅太阳电池的少子寿命.在完成测试定标后,对比目前普遍使用的微波光电导衰退法,对电致发光法测定单晶和多晶硅少子寿命进行实验验证.结果表明,电致发光测试方法能快速、稳定、准确地测定晶硅太阳电池的少子寿命.

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	沈文忠	上海交通大学太阳能研究所	35	210	7.0	13.0
2	刘霄	上海交通大学太阳能研究所	4	11	3.0	3.0
3	王振		1	3	1.0	1.0