应用于不同类型FPGA的多模式调试系统

• 作者: 万理 于敦山 宋子健 李文昌 阮爱武
• 来源期刊: 电子科技大学学报
• 学科: 工学
• 关键词: 调试 现场可编程门阵列 可视性 Scan模式 Snapshot模式
• 年，卷（期）: 2014,（5）
• 所属期刊栏目: 通信与信息工程
• 页码范围: 685-690
• 页数: 6页
• 分类号: TP306
• 字数: 4181字
• 语种: 中文
• DOI: 10.3969/j.issn.1001-0548.2014.05.009

摘要

随着超大规模集成电路(VLSI)以及片上系统(SoC)设计的日益复杂，基于现场可编程门阵列(FPGA)的硬件仿效成为了必要环节。为解决逻辑设计下载到基于FPGA的硬件仿效器后内部节点不可视的问题，提出一种调试系统，该调试系统使用了RTL级植入调试逻辑的调试方法，统一的用户界面和软件侧底层接口，并提供了ELA模式、Scan模式和Snapshot模式。所有模式均使用统一的外部接口，使得调试系统同时适用于Altera和Xilinx的FPGA。实验结果表明，与SignalTap和ChipScope模式相比，ELA模式消耗几乎相同的资源，而Scan模式和Snapshot模式会消耗更少的FPGA资源。

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	阮爱武	电子科技大学电子薄膜与集成器件国家重点实验室	16	110	6.0	10.0
2	于敦山	北京大学信息科学技术学院	29	66	4.0	6.0
3	李文昌	北京大学信息科学技术学院	3	10	2.0	3.0
4	万理	电子科技大学电子薄膜与集成器件国家重点实验室	2	7	2.0	2.0
5	宋子健	电子科技大学电子薄膜与集成器件国家重点实验室	1	5	1.0	1.0