X 射线测厚仪刻度校正模型的研究

• 作者: 徐广铎 王立强 童建民
• 来源期刊: 原子能科学技术
• 关键词: X射线 测厚仪 刻度校正 衰减模型
• 年，卷（期）: 2014,（5）
• 所属期刊栏目: 技术及应用
• 页码范围: 925-929
• 页数: 5页
• 分类号: TL364.5
• 语种: 中文
• DOI: 10.7538/yzk.2014.48.05.0925

摘要

本文提出了新的模型来描述X射线测厚仪中射线在穿过被测物质时的衰减规律。利用已知厚度的若干标定片的实测数据点，针对不同数据点数量、不同数据点分布等多种情况，对比此模型和其他文献中的刻度校正模型。结果表明，由此模型计算的衰减曲线与实验数据符合良好，且当标定数据点数量减少及分布改变时，此模型仍具有较高的精度，误差的稳定性超过其他模型。

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	王立强	清华大学核能与新能源技术研究院	33	141	6.0	10.0
2	童建民	清华大学核能与新能源技术研究院	9	29	3.0	5.0
3	徐广铎	清华大学核能与新能源技术研究院	2	4	1.0	2.0