基于UltraFlex系统进行LVDS接口芯片的测试方法

• 作者: 苏洋
• 来源期刊: 电子与封装
• 学科: 工学
• 关键词: LVDS ATE 信号完整性 动态测试向量
• 年，卷（期）: 2014,（10）
• 页码范围: 4-7,29
• 页数: 5页
• 分类号: TN407
• 字数: 3798字
• 语种: 中文

摘要

高速接口通常采用差分信号实现，LVDS接口可以满足高速信号传输，对具备LVDS接口芯片的测试方法与单端信号的测试有较大差别。描述了如何使用UltraFlex测试系统进行LVDS接口芯片的测试方法，包括通道分配、测试接口板设计和相关测试设置等内容。此方案已经应用于800 Mbps多路LVDS输入和输出接口的测试。

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	苏洋		6	1	1.0	1.0