Sr2Ru1-xMnxO4电阻率随掺杂量x变化规律的研究

• 作者: 朱小芹 睢永兴 胡文洁 薛建忠 郑龙
• 来源期刊: 低温物理学报
• 关键词: 结构 电阻率 XPS 磁电阻
• 年，卷（期）: 2014,（6）
• 页码范围: 482-486
• 页数: 5页
• 语种: 中文

摘要

采用传统固相烧结法合成了单相Sr2Ru1-xMnxO4多晶样品.同步辐射X射线衍射结果表明,随着Mn的逐渐掺入,晶胞中ab面内Ru-Ru距离逐渐增大.电阻率的测量结果表明,随着Mn的逐渐掺入体系的电阻率逐渐增大.一方面,Ru 3d的X射线光电子能谱(XPS)峰逐渐向高能方向移动,表明由于Ru-Ru距离的增大,Ru周围的电荷密度逐渐降低,贡献于电阻率的增大.另一方面,随着Mn的逐渐掺入体系室温磁化强度逐渐增强,表明Mn的掺入逐渐增大了体系的有效磁矩,同时体系在低温下出现负磁电阻效应,表明磁散射同样对电阻率的增大有一定的贡献.