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白光数码管的老化特性分析
白光数码管的老化特性分析
作者:
盛立军
基本信息来源于合作网站,原文需代理用户跳转至来源网站获取
白光数码管
光通量
老化
寿命
摘要:
根据温度加速寿命测试得到的实验数据以及80℃和100℃下的白光数码管老化特性曲线,分析了光通量出现增量的原因和其衰减机制,认为荧光粉胶体的材料禁带不断增加的杂质和缺陷以及荧光粉层周围的环氧树脂老化是光强下降的主要因素.最后利用Arrhenius关系预算出实验样品在常温工作下的平均寿命为18000h,其寿命符合市场对白光数码管的需求,为新型白光数码管技术领域的发展研究提供了借鉴.
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白光数码管的老化特性分析
来源期刊
光谱实验室
学科
物理学
关键词
白光数码管
光通量
老化
寿命
年,卷(期)
2014,(2)
所属期刊栏目
研究方向
页码范围
328-331
页数
4页
分类号
O432.2
字数
语种
中文
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盛立军
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白光数码管
光通量
老化
寿命
研究起点
研究来源
研究分支
研究去脉
引文网络交叉学科
相关学者/机构
期刊影响力
光谱实验室
主办单位:
中科院化工冶金研究所
出版周期:
双月刊
ISSN:
1004-8138
CN:
11-3157/O4
开本:
16开
出版地:
北京市高梁桥斜街13号院35号楼204室
邮发代号:
82-863
创刊时间:
1984
语种:
chi
出版文献量(篇)
6771
总下载数(次)
3
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