用金相显微镜测量双金属线铜层及镀层厚度

• 作者: 刘振虎 戴雅康
• 来源期刊: 电线电缆
• 学科: 工学
• 关键词: 双金属线 铜层厚度 镀层厚度 金相显微镜 测量
• 年，卷（期）: 2014,（6）
• 所属期刊栏目: 综述
• 页码范围: 8-11
• 页数: 4页
• 分类号: TM244.1
• 字数: 2765字
• 语种: 中文

摘要

阐述了在金相显微镜中测量双金属线铜层及镀层厚度的方法.介绍了金相显微镜的选用、测量装置的组成、测微尺的标定及测量方法、待检试样的制备技术以及影响测量精度的因素.

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	戴雅康		19	56	5.0	6.0
2	刘振虎		1	1	1.0	1.0