基于March C-算法的SRAM芯片的SEU失效测试系统

• 作者: 李振 王鹏 薛茜男 邵伟
• 来源期刊: 电子器件
• 学科: 工学
• 关键词: 仿真测试 单粒子翻转 LabVIEW March C- 算法 SRAM
• 年，卷（期）: 2014,（5）
• 所属期刊栏目: 固态电子器件及材料
• 页码范围: 803-807
• 页数: 5页
• 分类号: TN710-34
• 字数: 3203字
• 语种: 中文
• DOI: 10.3969/j.issn.1005-9490.2014.05.001

摘要

为实现SRAM芯片的单粒子翻转故障检测，基于LabVIEW和FPGA设计了一套存储器测试系统：故障监测端基于LabVIEW开发了可视化的测试平台，执行数据的采集、存储及结果分析任务，板卡测试端通过FPGA向参考SRAM和待测SRAM注入基于March C-算法的测试向量，通过NI公司的HSDIO-6548板卡采集2个SRAM的数据，根据其比较结果判定SEU故障是否发生。该系统可以实时监测故障状态及测试进程，并且具有较好的可扩展性。

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	王鹏	中国民航大学天津市民用航空器适航与维修重点实验室	76	158	6.0	8.0
2	李振	中国民航大学安全科学与工程学院	4	21	3.0	4.0
3	薛茜男	中国民航大学天津市民用航空器适航与维修重点实验室	13	34	4.0	4.0
4	邵伟	中国民航大学安全科学与工程学院	2	5	1.0	2.0