优化SOC测试时间的扫描链平衡及NSGA-Ⅱ设计

• 作者: 王海超 谈恩民 赵丽丽
• 来源期刊: 国外电子测量技术
• 学科: 工学
• 关键词: SOC 差值二次分配 测试时间 TAM NSGA-Ⅱ
• 年，卷（期）: 2014,（7）
• 所属期刊栏目: 理论与方法
• 页码范围: 32-35
• 页数: 4页
• 分类号: TN206
• 字数: 2795字
• 语种: 中文

摘要

片上系统SOC测试时间很大程度上取决于Wrapper和测试访问机制TAM(test access mechanism)的设计.为了优化SOC测试时间,主要对Wrapper和TAM进行设计,降低单个核的测试应用时间靠优化的Wrapper,在差值二次分配平衡扫描链的基础上,对TAM进行划分,以测试时间和TAM宽度为目标进行优化,运用非支配排序目标遗传算法(NSGA-II)对模型进行求解,并采用ITC'02标准电路中的d695电路为实例进行验证,结果表明该方法与基于SA、ILP算法相比,能够在降低SOC测试时间上获得较为理想的效果,并且降低相应的测试功耗,证明本实验方法切实可行.

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	谈恩民	桂林电子科技大学电子工程与自动化学院	53	221	8.0	11.0
2	王海超	桂林电子科技大学电子工程与自动化学院	2	12	1.0	2.0
3	赵丽丽	桂林电子科技大学电子工程与自动化学院	1	11	1.0	1.0