试验电压对输电线路缺陷电晕放电紫外光子计数率的影响

• 作者: 万树伟 关志成 卞星明 张林 王黎明 陈澜
• 来源期刊: 高电压技术
• 关键词: 紫外特性 光子计数率 输电线路 缺陷 试验电压 电晕放电
• 年，卷（期）: 2014,（1）
• 所属期刊栏目: 过电压与绝缘专题
• 页码范围: 147-152
• 页数: 6页
• 字数: 3187字
• 语种: 中文
• DOI: 10.13336/j.1003-6520.hve.2014.01.021

摘要

高压输电线路缺陷故障早期往往伴随着电晕放电,会产生特定波长的紫外光,因此可以利用紫外成像仪检测这些电晕放电现象.为研究试验电压对输电线路缺陷电晕放电的紫外光子计数率的影响,通过模拟架空线路在不同电压下的电晕放电现象对不同长度的断裂铝股进行了紫外测量,对试验结果进行分析得到了影响规律.试验结果表明,在距离放电点距离相同,且成像增益相同时,断裂铝股起晕后的光子计数率与试验电压的平方近似呈线性关系,试验电压平方对不同长度断裂铝股的影响梯度基本相同,在0.25～0.3之间.这一结论在实际输电线路中也得到了有效验证,为紫外仪在输电线路电晕缺陷检测上的应用奠定了基础.

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	王黎明	清华大学深圳研究生院	268	4672	36.0	52.0
2	关志成	清华大学深圳研究生院	227	4753	35.0	53.0
6	万树伟	清华大学深圳研究生院	5	35	4.0	5.0
10	卞星明	清华大学深圳研究生院	19	415	12.0	19.0
14	陈澜	清华大学深圳研究生院	8	86	5.0	8.0
18	张林		9	24	4.0	4.0