X-荧光仪在铝工业分析中的应用

• 作者: 袁艺
• 来源期刊: 轻金属
• 学科: 工学
• 关键词: X荧光仪 铝合金 基体效应
• 年，卷（期）: 2014,（5）
• 所属期刊栏目: 轻合金及其加工
• 页码范围: 43-45,54
• 页数: 4页
• 分类号: TF744.16
• 语种: 中文

摘要

利用X荧光仪分析铝及铝合金中的杂质含量,对测试条件的选择、标准曲线的绘制、基体效应的校正、方法准确度、精密度几个方面进行了研究.生产实践证明:用X荧光仪测定铝及铝合金中铁、硅、锰、锌、钛、镁六种元素含量的相对标准偏差(n=10)在0.09％ ～ 3.36％之间.X射线荧光光谱分析方法精密度高、准确度高、简便、快速,分析成本低,在铝工业中完全可以应用于实际分析,是分析检测发展的重要方向.

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	袁艺		5	5	2.0	2.0