锆英砂样品中锆铪谱线饱和厚度的计算及应用

• 作者: 于兆水 安树清 张勤 李小莉
• 来源期刊: 岩矿测试
• 学科: 化学
• 关键词: 锆英砂 锆 铪 X射线荧光光谱法 熔融片制样 谱线饱和厚度
• 年，卷（期）: 2014,（2）
• 所属期刊栏目: 岩石矿物分析
• 页码范围: 224-229
• 页数: 6页
• 分类号: O614.412|O614.413|O657.34
• 字数: 4729字
• 语种: 中文

摘要

应用熔融制样X射线荧光光谱法测定锆英砂中的锆,通常采用Zr Kα线,而采用Zr Ko线作为分析线对熔融片来说并未达到饱和厚度,因此Zr的线性差,测定结果误差大.本文采用波长色散X射线荧光光谱法测定锆英砂样品中锆铪硅铝钙钛铁镁钠铪磷锰等12种组分.重点研究了锆分析谱线的选择,通过理论计算熔融片中Zr Kα线的饱和厚度为6638μm,而Zr Lα线的饱和厚度为20μm.由于熔融制备样片厚度为2500 μm,在熔融片中Zr Kα线远未达到饱和厚度,因此测定锆时应用Zr Lα谱线取代文献中应用的Zr Kα谱线.采用Zr Lα线,校准曲线的标准偏差(RMS)为0.39,而Zr Kα线的RMS为1.03,ZrO2分析结果的准确度和精密度有了显著的提高.对于锆,Hf Lα和Hf Lβ线饱和厚度分别为971 μm、1444μm,由于Hf Lα1谱线与Zr Kα二次谱线重叠,因此测定铪时应用Hf Lβ线作为分析线.实验还对四硼酸锂-偏硼酸锂混合熔剂、熔样比例和熔样温度等实验条件进行了优化,使用理论α系数和经验系数法校正基体效应,各元素计算的检出限与实际能报出的结果基本一致,方法精密度(RSD)为0.1％ ～10.9％,各元素的测定值与化学法测定值相符,表明通过饱和厚度的计算确定的锆和铪测定谱线具有可行性.

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	张勤	中国地质科学院地球物理地球化学勘查研究所	83	1441	20.0	35.0
2	李小莉		31	382	11.0	18.0
3	于兆水	中国地质科学院地球物理地球化学勘查研究所	24	124	7.0	10.0
4	安树清		11	90	5.0	9.0