XLPE电缆水树老化过程中半导电层缺陷的形成机理

• 作者: 周凯 杨明亮 杨滴 陶文彪 陶霰韬
• 来源期刊: 高电压技术
• 关键词: XLPE电缆 水树 半导电层 电解反应 孔洞缺陷 老化机理
• 年，卷（期）: 2014,（1）
• 所属期刊栏目: 过电压与绝缘专题
• 页码范围: 124-130
• 页数: 7页
• 字数: 2844字
• 语种: 中文
• DOI: 10.13336/j.1003-6520.hve.2014.01.018

摘要

交联聚乙烯(XLPE)电缆的半导电层缺陷诱发机理尚无定论.为此,在加速水树老化实验的基础上,观测了水树老化后电缆的内、外半导电层中的缺陷,并对这些缺陷的形成原因进行了讨论.采用水针法对长度为70m的XLPE电缆进行加速老化,电缆的绝缘性能逐渐下降,并在绝缘层中观察到水树缺陷.通过扫描电镜(SEM)观测到,老化样本的半导电层中有大量孔洞缺陷.进一步采用X射线能量色散谱(EDS)对内、外半导电层中的化学元素进行定量分析证明,老化后半导电层中氧(O)元素含量显著减少.因此,在长期老化过程中,半导电层中可能发生了电解质水溶液的电解反应,并生成了氧气(O2)和臭氧(O3),这种气体的生成是半导电层中孔洞缺陷发生及发展的原因.

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	周凯	四川大学电气信息学院	143	755	15.0	20.0
2	陶霰韬	四川大学电气信息学院	13	136	7.0	11.0
3	陶文彪	四川大学电气信息学院	23	200	8.0	13.0
4	杨滴	四川大学电气信息学院	13	114	7.0	10.0
5	杨明亮	四川大学电气信息学院	22	145	7.0	10.0