基于高斯拟合测量CCD灵敏度均匀性

• 作者: 丰生日 曹益平
• 来源期刊: 工具技术
• 学科: 工学
• 关键词: 面阵CCD 菲涅尔衍射 高斯曲面拟合 零点像素 灵敏度
• 年，卷（期）: 2014,（4）
• 所属期刊栏目: 测试与仪器
• 页码范围: 83-86
• 页数: 4页
• 分类号: TN206
• 字数: 2828字
• 语种: 中文

摘要

在精密度要求较高的图像测量领域中,CCD灵敏度的不均匀对测量精度有较大的影响.因此,提出了一种基于小孔衍射原理的高斯曲面拟合像面光场测量CCD灵敏度均匀性的方法.由于CCD自身的物理结构设计不均匀性、响应非线性以及暗电流等噪声因素使得光响应偏离实际值,该方法通过对CCD像面上感兴趣光场域进行高斯曲面拟合来确定零点像素的灰度响应.对所有像素测量完成之后通过归一化即可计算出CCD灵敏度均匀性.实验结果表明:对所使用的CCD47-10系列,计算其CCD灵敏度均匀性为2.14％.该测量方法基本满足设计原理简单、稳定性可靠、抗干扰能力强的要求,完成了快速、自动测量.

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	曹益平		136	874	15.0	24.0
2	丰生日		1	1	1.0	1.0