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摘要:
利用镀膜技术制作锰铜传感器,可以实现传感器的超薄化,提高传感器的灵敏度和线性度.改变溅射功率参数,采用中频磁控溅射技术在玻璃(SiO2)衬底上制备出一系列锰铜镍合金薄膜,重点研究沉积条件对薄膜式锰铜传感器薄膜结构、表面形貌等性能的影响.采用三维形貌仪测试薄膜厚度和计算沉积速率;采用原子力显微镜(AFM)研究薄膜的表面特征;采用X射线衍射(XRD)分析了热处理前后薄膜的微观结构;并采用直读光谱仪(DRS)测试溅射靶材和薄膜的成分.研究结果表明:沉积速率随溅射功率增加而增加,溅射功率达到1 kW后沉积速率保持在100 nm·min-;溅射功率也会明显的影响薄膜的表面形貌,薄膜的表面粗糙度RMS随溅射功率的增加而减小;XRD分析结果表明溅射功率对薄膜的微观结构影响不大,样品的微观结构在热处理前后没有显著变化,只是热处理后样品观察到了微弱的Mn微观结构取向;溅射功率变化对薄膜的成分影响较小,不同功率沉积的薄膜样品的成分相近.
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文献信息
篇名 中频磁控溅射制备锰铜传感器用合金薄膜的工艺
来源期刊 稀有金属 学科 物理学
关键词 锰铜合金 溅射功率 形貌 磁控溅射
年,卷(期) 2014,(3) 所属期刊栏目 研究论文
研究方向 页码范围 427-431
页数 分类号 O484.4
字数 语种 中文
DOI 10.13373/j.cnki.cjrm.2014.03.013
五维指标
作者信息
序号 姓名 单位 发文数 被引次数 H指数 G指数
1 张延松 13 36 2.0 5.0
2 丁昂 10 12 2.0 2.0
4 钱坤明 10 45 3.0 6.0
5 牟宗信 大连理工大学三束材料改性教育部重点实验室 38 217 10.0 12.0
6 吴敏 4 25 2.0 4.0
9 牟晓东 大连理工大学三束材料改性教育部重点实验室 2 2 1.0 1.0
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