全内反射测速技术（TIRV）中界面隐失波基准光强I0的确定

• 作者: 史飞 李战华 郑旭 陈荣前
• 来源期刊: 实验流体力学
• 学科: 物理学
• 关键词: 全内反射测速技术(TIRV) 隐失波 基准光强 纳米粒子 亮度分布
• 年，卷（期）: 2014,（6）
• 所属期刊栏目: 测量技术
• 页码范围: 80-85
• 页数: 6页
• 分类号: O353.5
• 字数: 5249字
• 语种: 中文
• DOI: 10.11729/syltlx20140048

摘要

基于隐失波全内反射的测速技术TIRV （Total internal reflection velocimetry）是微纳流动中测量壁面附近几百纳米范围内速度的有效方法。隐失波的光强分布I （z）随离开壁面的高度z指数衰减。若荧光粒子位于光强分布中，其亮度也将符合此指数关系，通过测量粒子亮度可确定粒子的垂向位置z，而确定隐失波的基准光强I0是该技术的关键之一。基于粒子近壁Boltzmann浓度分布、粒子粒径不均匀性和隐失波光强公式，给出了粒子亮度概率密度分布的数值解。实验测量粒子统计亮度分布后，依据实验和理论分布相同原则可定量确定基准光强I0。采用φ100nm和φ250nm 荧光粒子验证此方法并定量分析了粒径分散性对确定 I0的影响。进一步采用φ100nm粒子进行近壁速度测量实验，结果验证了本方法的有效性。

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	李战华	中国科学院力学研究所	19	308	6.0	17.0
2	史飞	中国计量学院计量测试工程学院	2	2	1.0	1.0
3	郑旭	中国科学院力学研究所	18	71	5.0	8.0
4	陈荣前	中国计量学院计量测试工程学院	4	16	3.0	4.0