Al2 O3掺杂对Ce0.8 Gd0.15 Y0.05 O2-δ固体电解质的微结构与电性能的影响

• 作者: 林晓敏 铁丽 韩健
• 来源期刊: 北华大学学报（自然科学版）
• 学科: 化学
• 关键词: 固体电解质 X射线衍射( XRD) 扫描电子显微镜( SEM) 电导率
• 年，卷（期）: 2014,（4）
• 所属期刊栏目: 化 学
• 页码范围: 458-462
• 页数: 5页
• 分类号: O614.33
• 字数: 3422字
• 语种: 中文
• DOI: 10.11713/j.issn.1009-4822.2014.04.008

摘要

采用溶胶-凝胶法制备了AlO1.5掺杂浓度为0.5%,1.0%,2.0%的AlO1.5/Ce0.8 Gd0.15 Y0.05 O2-δ固体电解质材料,利用X射线衍射( XRD)、扫描电子显微镜( SEM)和交流阻抗谱研究了Al2 O3掺杂对Ce0.8 Gd0.15 Y0.05 O2-δ微观结构及电性能的影响,结果表明：800℃焙烧的所有粉末样品均为单相立方萤石结构,在所有样品中,AlO1.5掺杂量为0.5%的样品晶粒均匀,较致密,交流阻抗谱测试表明掺杂AlO1.5(x=0.5%)使Ce0.8Gd0.15Y0.05O2-δ晶界电阻减小,晶界电导率增高；当AlO1.5掺杂量x≥1%时,Al2 O3对晶界的阻塞作用使晶界电导率降低,在所有样品中Ce0.8Gd0.15Y0.05O2-δ/0.5% AlO1.5晶界电导率最高(σ700℃=8.12×10-3 S/cm),说明在Ce0.8Gd0.15Y0.05O2-δ少量掺杂AlO1.5(x=0.5%)具有烧结助剂和晶界清除剂的作用.

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	韩健	北华大学物理学院	4	5	1.0	2.0
2	林晓敏	北华大学物理学院	16	40	2.0	5.0
3	铁丽	北华大学物理学院	1	4	1.0	1.0