非接触IC卡失效机理研究

• 作者: 周东平 肖婷婷
• 来源期刊: 警察技术
• 关键词: 非接触IC卡 居民身份证 失效模式 失效机理 检测工具和手段
• 年，卷（期）: 2014,（5）
• 所属期刊栏目: 法定证照
• 页码范围: 66-69
• 页数: 4页
• 字数: 3876字
• 语种: 中文

摘要

在对占全国非接触IC卡发放置之首的第二代居民身份证(以下简称“二代证”)进行抽样调查并进行机读功能失效分析的基础上,深入分析研究了非接触IC卡天线断裂扭曲变形、压焊点脱焊、模块胶裂、引线键合断裂、芯片碎裂、系统错误、静电放电损伤等失效模式和失效机理,并对引起这些失效的根本原因及今后改进方向作了深入探讨.此外,简要介绍了各种失效模式的检测工具和手段.

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	肖婷婷		8	20	4.0	4.0
2	周东平		11	34	4.0	5.0