采用低温PL谱研究探测器级CdZnTe晶体

• 作者: 介万奇 李阳 杨帆 殷子昂 王涛 陈曦
• 来源期刊: 人工晶体学报
• 学科: 工学
• 关键词: CdZnTe 晶体质量 光致发光谱 双晶X射线摇摆曲线 位错腐蚀坑密度
• 年，卷（期）: 2014,（2）
• 页码范围: 321-326,332
• 页数: 7页
• 分类号: TN304.2
• 字数: 3188字
• 语种: 中文

摘要

采用低温光致发光谱技术研究了核辐射探测器用高阻CdZnTe晶体.发现PL谱中的三个特征峰均与晶体质量有关,其中(D0,X)峰FWHM值和IDAP/I(D0.X)与晶格完整性和浅能级缺陷密度有关联,D2峰则与位错密度密切相关.采用双晶X射线摇摆曲线和位错腐蚀坑密度对此表征进行了验证.低温PL谱测试结果显示晶体质量较高的CdZnTe晶片,其探测器的能谱分辨率也相对较高.

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	介万奇	西北工业大学凝固技术国家重点实验室	272	1636	19.0	27.0
2	陈曦	西北工业大学凝固技术国家重点实验室	18	100	6.0	9.0
3	王涛	西北工业大学凝固技术国家重点实验室	100	658	13.0	21.0
4	李阳	西北工业大学凝固技术国家重点实验室	15	90	6.0	9.0
5	杨帆	西北工业大学凝固技术国家重点实验室	37	155	7.0	11.0
6	殷子昂	西北工业大学凝固技术国家重点实验室	1	1	1.0	1.0