结构缺陷对电子设备屏蔽效果影响分析

• 作者: 富震
• 来源期刊: 现代电子技术
• 关键词: 电磁兼容 屏蔽效能 结构缺陷 屏蔽箱
• 年，卷（期）: 2014,（18）
• 所属期刊栏目: 能源技术
• 页码范围: 149-151
• 页数: 3页
• 分类号: TN710-34
• 语种: 中文

摘要

在电子设备的屏蔽箱上开有各种用途的小孔或缝隙，外界的电磁干扰通过孔、缝进入到电子设备的内部，对内部电路造成干扰。从电磁干扰的传播途径出发，对在不同情况下结构缺陷对屏蔽效果的影响进行了分析，并提出了相应的改进措施，对电子设备的工程设计具有一定的指导意义。

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	富震		3	15	2.0	3.0