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摘要:
SRAM型FPGA开发过程灵活,在航天领域有广泛的应用,但该系列 FPGA 易发生单粒子翻转事件,导致功能中断或信息丢失。配置刷新结合三模冗余能有效抑制单粒子翻转带来的影响。在详细讨论了配置刷新+三模冗余的基础上,提出了FPGA自主刷新+三模冗余的解决方案,保证FPGA抗单粒子性能的基础上提高了系统的资源利用率,经注错试验验证了方案可行性。
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检错纠错
一种双栅结构抗单粒子翻转加固SRAM存储单元
单粒子翻转
双栅结构
SRAM存储单元
加固设计
基于部分重构的SRAM型FPGA单粒子翻转模拟
SRAM型FPGA
单粒子翻转(SEU)模拟
部分重构
内容分析
关键词云
关键词热度
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文献信息
篇名 Virtex FP GA抗单粒子翻转技术
来源期刊 无线电通信技术 学科 工学
关键词 单粒子翻转 三模冗余 自主刷新
年,卷(期) 2014,(4) 所属期刊栏目 综合电子信息技术
研究方向 页码范围 73-76
页数 4页 分类号 TN47
字数 2749字 语种 中文
DOI
五维指标
作者信息
序号 姓名 单位 发文数 被引次数 H指数 G指数
1 庞宗强 中国电子科技集团公司第五十四研究所 4 5 1.0 2.0
2 高鹏 中国电子科技集团公司第五十四研究所 14 32 4.0 5.0
3 周同 中国电子科技集团公司第五十四研究所 2 5 1.0 2.0
传播情况
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研究主题发展历程
节点文献
单粒子翻转
三模冗余
自主刷新
研究起点
研究来源
研究分支
研究去脉
引文网络交叉学科
相关学者/机构
期刊影响力
无线电通信技术
双月刊
1003-3114
13-1099/TN
大16开
河北省石家庄市中山西路589号
18-149
1972
chi
出版文献量(篇)
2815
总下载数(次)
6
总被引数(次)
11314
论文1v1指导