LCD Mura缺陷的B样条曲面拟合背景抑制

• 作者: 刘云杰 卢小鹏 李坤 李辉 梁平
• 来源期刊: 光电工程
• 学科: 工学
• 关键词: Mura缺陷 亮度不均匀 B样条 曲面拟合 背景抑制
• 年，卷（期）: 2014,（2）
• 所属期刊栏目: ?光电测量与检测?
• 页码范围: 33-39
• 页数: 7页
• 分类号: TP391.4
• 字数: 5076字
• 语种: 中文
• DOI: 10.3969/j.issn.1003-501X.2014.02.006

摘要

针对机器视觉检测TFT-LCD Mura缺陷时存在的图像整体亮度不均匀、背景复杂等影响检测准确性的问题，提出一种基于B样条曲面拟合的背景抑制方法。在最小二乘法准则的约束下，采用双三次B样条曲面拟合算法拟合出背景，并添加光顺项调整拟合精度，用原始图像减去拟合背景，从而消除亮度不均匀背景对缺陷分割造成的影响。为提高算法速度，对原始图像进行分块拟合，并将双三次B样条函数分解为一元函数求解，减小了计算量，同时避免了对原函数求解时容易出现的病态解问题。实验结果表明，该算法准确、高效。

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	李辉	电子科技大学航空航天学院	95	836	16.0	23.0
2	梁平	四川出入境检验检疫局机电处	4	65	3.0	4.0
3	卢小鹏	电子科技大学航空航天学院	2	30	2.0	2.0
4	刘云杰	四川出入境检验检疫局机电处	3	34	3.0	3.0
5	李坤	电子科技大学航空航天学院	8	59	5.0	7.0